半側顏面短�。–raniofacialMicrosomia）是我國第二大顱面部先天畸形疾病，我國為世界三大高發(fā)地區(qū)之一。由于該病的遺傳發(fā)病機制不清，針對該病的分類學仍存在較大爭議。目前，該病的病因學假說主要有兩個：一是神經嵴細胞（NeuralCrestCell，NCC）在層離、轉換、遷移、互作和分化過程受到干擾，二是面部發(fā)育過程局部缺血。雖然大多學者普遍認同第一個假說，但至今仍未找到更為確鑿的證據。全基因組范圍內篩查致病基因已經成功應用在大量的疾病中，此前該病的研究受限于樣本獲取困難而沒有開展大規(guī)模的全基因組研究。

近日，中國科學院北京基因組研究所基因組科學與信息重點實驗室于軍研究組與中國醫(yī)學科學院整形外科醫(yī)院合作，對后者近些年收集的約1400例半側顏面短小畸形患者和3700份正常健康樣本開展了全基因組關聯(lián)研究，以定位該疾病的染色體易感區(qū)域。該項目采用全基因組芯片定位了13個與半側顏面短小顯著相關聯(lián)的區(qū)域。對這些區(qū)域內的基因進行分析后，發(fā)現(xiàn)12個和NCC發(fā)育相關的基因，同時這些基因也參與到血管的發(fā)生當中，從而在遺傳層面證實了半側顏面短小的主要發(fā)病病因。研究人員還采用全基因組測序數據在這13個染色體區(qū)域內尋找致病突變，最后篩查到4個候選致病突變位點。

該研究極大地推動了對半側顏面短小疾病的病因認知以及后續(xù)致病突變位點的發(fā)掘研究。

該研究是世界上首個對半側顏面短小畸形開展的大規(guī)模全基因組研究，不僅揭示了遺傳因素對該病有巨大貢獻，還證實該病與第一大顱面部畸形唇腭裂存在不同的發(fā)病機制。該研究的成果將推動該病在其他人種中的遺傳病因驗證和發(fā)掘工作，將為徹底揭示該病病因提供支持，同時這些成果也為遺傳咨詢和診斷治療提供了重要依據。

該項目獲得國家自然科學基金委面上和青年項目的資助。

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